Publication
レーザー学会 第615回研究会 「次世代ファイバレーザー技術」, P-20 (2026)
Acquisition of Reflectance Spectra for Thickness Measurement of Multilayer Films Using Dual-Comb Spectroscopy
Author
〇高梨優希1、斧田将吾1、武子尚生1、高橋直人2、中嶋善晶1（1.東邦大学、2.大塚電子株式会社）
Category
Domestic Conference presentation